发明名称 | 基于高速摄影下的微分离力的测量方法 | ||
摘要 | 本发明提供了一种基于高速摄影下的微分离力的测量方法,包括步骤:搭建分离装置分离力测试平台:将待分离的小卫星模拟器用分离装置固定在分离面上并进行解锁装置供电安全性检查;安装高速摄影装置及标尺:将高速摄影装置对准分离装置,并将标尺安装在分离装置分离力测试台上并校正水平;用高速摄影拍摄分离过程以计算分离力:开启高速摄影装置,启动分离电源控制开关,待分离螺杆飞出落地后,停止摄影;通过对每帧图像中螺杆对应的标尺刻度的变化,计算出分离力大小。本发明可以较为精确地估算出微分离装置的分离力大小。 | ||
申请公布号 | CN103940541A | 申请公布日期 | 2014.07.23 |
申请号 | CN201410178119.8 | 申请日期 | 2014.04.29 |
申请人 | 上海卫星工程研究所 | 发明人 | 韩旭;陈长春;廖波;刘正全 |
分类号 | G01L5/00(2006.01)I | 主分类号 | G01L5/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人 | 郭国中 |
主权项 | 一种基于高速摄影下的微分离力的测量方法,其特征在于,包括如下步骤: 搭建分离装置分离力测试平台:将待分离的小卫星模拟器用分离装置固定在分离面上并进行解锁装置供电安全性检查; 安装高速摄影装置及标尺:将高速摄影装置对准分离装置,并将标尺安装在分离装置分离力测试台上并校正水平; 用高速摄影拍摄分离过程以计算分离力:开启高速摄影装置,启动分离电源控制开关,待分离螺杆飞出落地后,停止摄影;通过对每帧图像中螺杆对应的标尺刻度的变化,计算出分离力大小。 | ||
地址 | 200240 上海市闵行区华宁路251号 |