发明名称 |
测试装置、CPU芯片及缓存的测试方法 |
摘要 |
本发明实施方式公开了一种测试装置、CPU芯片及缓存的测试方法,测试装置包括:随机地址产生器,用于将伪随机序列产生的随机数作为随机地址,随机地址为缓存的地址,其中缓存的地址与主存储器的地址具有映射关系;随机数据产生器,用于产生与随机地址一一对应的第一随机数据;测试单元,用于根据第一随机数据对随机地址进行逻辑功能测试。通过以上公开内容,本发明所揭示的技术方案无需占用缓存的I/O端口,可在降低成本的前提下对缓存进行逻辑功能测试。 |
申请公布号 |
CN103473160A |
申请公布日期 |
2013.12.25 |
申请号 |
CN201310447156.X |
申请日期 |
2013.09.26 |
申请人 |
杭州华为数字技术有限公司 |
发明人 |
李生;李涛;常胜 |
分类号 |
G06F11/26(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/26(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 |
代理人 |
何青瓦 |
主权项 |
一种测试装置,其特征在于,所述测试装置用于测试缓存,包括:随机地址产生器,用于将伪随机序列产生的随机数作为随机地址,所述随机地址为所述缓存的地址,其中所述缓存的地址与主存储器的地址具有映射关系;第一随机数据产生器,用于产生与所述随机地址一一对应的第一随机数据;测试单元,用于根据所述第一随机数据对所述随机地址进行逻辑功能测试,所述逻辑功能测试包括读测试,所述测试单元包括控制器和比较器,其中:所述控制器,用于将所述第一随机数据写入到所述随机地址中,读取所述随机地址中的数据,并判断所述随机地址是否有效,及是否被修改;所述比较器,用于在所述控制器判断到所述随机地址有效且没有被修改时,将所述随机地址中的数据与所述第一随机数据进行比较,在比较结果一致时,所述控制器输出针对所述随机地址的读测试合格的结果,在所述比较结果不一致时,所述控制器输出针对所述随机地址的读测试不合格的结果。 |
地址 |
310052 浙江省杭州市滨江区滨兴路301号3幢A楼301室 |