发明名称 一种使用激光传感器测量扬声器参数的方法及系统
摘要 本发明提出一种使用激光位移传感器测量扬声器参数的方法,并给出了实现该方法的测试系统。该方法采用步进扫频信号激励被测器件,同时测量了被测器件振膜的位移响应信号和流过被测器件的电流响应信号。将上述信号代入扬声器的线性模型和大信号沃特拉模型,通过系统辨识得到扬声器的线性参数和非线性参数。由于扬声器的线性参数和非线性参数可以表征扬声器在不同幅度输入下的工作特性,该方法不但可以应用于扬声器的设计验证、产品质量检测,还可以应用于扬声器产品的音质改善。
申请公布号 CN102158793B 申请公布日期 2013.12.18
申请号 CN201110083848.1 申请日期 2011.04.02
申请人 嘉兴中科声学科技有限公司 发明人 韦峻峰;冯海泓;赵亮;徐建锋;严莎莎
分类号 H04R29/00(2006.01)I 主分类号 H04R29/00(2006.01)I
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人 沈志良
主权项 1.一种使用激光传感器测量扬声器参数的方法,其特征在于该方法包括如下步骤: 1)设于计算机中的激励信号生成模块生成激励信号,该激励信号为数字信号,该数字信号经数模模数转换模块转换为模拟信号后输出; 2)功率放大器将数模模数转换模块输出的模拟信号放大后输出至被测器件<u>;</u>3)激光传感器测量被测器件的位移响应信号,电流传感器测量流过被测器件的电流响应信号,得到的电流信号和位移信号输入数模模数转换模块,通过数模模数转换模块转换为数字信号后送入响应信号采集及处理模块,再把经处理后的信号输入到线性参数辨识模块和非线性参数辨识模块,经线性参数辨识模块的线性参数辨识模型辨识处理和非线性参数辨识模块的大信号沃特拉模型辨识处理,得到扬声器的线性参数和非线性参数; 当流过被测器件的电流及其两端的电压已知时,在已知被测器件的等效振动质量M<sub>ms</sub>的前提下,通过阻抗特性Z(s)公式,辨识得到线性参数;通过Volterra核函数关系式<u>,</u>采用非线性最小二乘法辨识得到非线性参数; 阻抗特性Z(s)为: <img file="FDA00003510198600016.GIF" wi="770" he="128" />Volterra核函数关系式为: <img file="FDA00003510198600011.GIF" wi="1033" he="127" /><img file="FDA00003510198600012.GIF" wi="874" he="114" /><img file="FDA00003510198600013.GIF" wi="802" he="68" /><img file="FDA00003510198600014.GIF" wi="1112" he="124" /><img file="FDA00003510198600015.GIF" wi="868" he="137" />
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