发明名称 Lötstelleninspektionsverfahren, Lötstelleninspektionsgerät und Leiterplatteninspektionssystem
摘要 Ein Lotdruckinspektionsgerät (10) misst das Volumen von Lotpaste an einer Kontaktierungsstelle auf einer Leiterplatte und schickt Inspektionsergebnisinformationen, die den Messwert umfassen, an eine Inspektionsdaten-Verwaltungsvorrichtung (102). Ein Lötstelleninspektionsgerät (30) erfasst Merkmalsdaten an einer zu inspizierenden Lötstelle aus einem Bild der Leiterplatte nach dem Reflow, und erhält das Volumen der Lotpaste, welches an einem Ort, der der zu inspizierenden Lötstelle entspricht, mit dem Lotdruckinspektionsgerät (10) gemessen wurde durch Kommunikation mit der Inspektionsdaten-Verwaltungsvorrichtung (102). Unter Verwendung dieses Volumens wird ein Merkmal an einem Ort in der Nähe einer Komponente, an dem die Merkmalsdaten nur schwer messbar sind, geschätzt, und die Merkmalsdaten werden mit dem Ergebnis dieser Schätzung ergänzt, die Höhe der Benetzung mit Lot nach dem Reflow wird berechnet, und es wird beurteilt, ob die Höhe fehlerhaft ist oder nicht.
申请公布号 DE112011104723(T5) 申请公布日期 2013.12.12
申请号 DE201111104723T 申请日期 2011.03.17
申请人 OMRON CORP. 发明人 FUJII, SHIMPEI;NAKAJIMA, KATSUKI;TANIGAMI, MASANOBU;MORI, HIROYUKI
分类号 G01B11/24;G01B11/25;G01B11/26;G01N21/956;H05K3/34 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项
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