发明名称 半导体装置的制造方法,半导体装置的制造装置,电脑程式及记忆媒体
摘要 制造一种可抑止有机杂质层的形成,且铜膜与形成底层的金属的密着性佳之半导体装置。;被覆有由钛等的氧化倾向高的金属所构成的势垒金属层13(底层膜)之基板(晶圆W)会被载置于处理容器内。与水蒸气的供给开始同时或其后,供给由铜的有机化合物(例如Cu(hfac)TMVS)所构成的原料气体,而于藉由水蒸气来形成氧化物层13a的势垒金属层13的表面形成铜膜。其次,对该晶圆W施以热处理,而使氧化物层13a变换成构成势垒金属层13的金属与铜的合金层13b。
申请公布号 TWI415217 申请公布日期 2013.11.11
申请号 TW096126384 申请日期 2007.07.19
申请人 东京威力科创股份有限公司 日本 发明人 小岛康彦;池田太郎;波多野达夫
分类号 H01L21/768;H01L21/3205 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址 日本
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