发明名称 | 存储器控制器 | ||
摘要 | 本发明提供存储器控制器。根据实施方式,存储器控制器具备:编码部,其通过对用户数据进行纠错码化处理而生成第1至第n校验位,通过对第1至第n校验位分别进行纠错码化处理而生成第1至第n外部校验位;和译码部,其用用户数据、第1至第n校验位及第1至第n外部校验位,进行纠错译码处理,根据用于生成第1至第(i-1)校验位的生成多项式来选择用于生成第i校验位的生成多项式。 | ||
申请公布号 | CN103324548A | 申请公布日期 | 2013.09.25 |
申请号 | CN201310088326.X | 申请日期 | 2013.03.19 |
申请人 | 株式会社 东芝 | 发明人 | 鸟井修;菅野伸一;山城遼 |
分类号 | G06F11/10(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/10(2006.01)I |
代理机构 | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人 | 陈海红;段承恩 |
主权项 | 一种存储器控制器,对非易失性存储器进行控制,其特征在于,具备:编码部,通过对用户数据进行纠错编码处理而生成第1至第n校验位,通过对所述第1至第n校验位分别进行纠错编码处理而生成第1至第n外部校验位;存储器接口部,对所述用户数据、所述第1至第n校验位及所述第1至第n外部校验位向所述非易失性存储器的写入及从所述非易失性存储器的读出进行控制;和译码部,用从所述非易失性存储器读出的所述用户数据、所述第1至第n校验位及所述第1至第n外部校验位,进行纠错译码处理,基于用于生成第1至第(i‑1)校验位的生成多项式来选择用于生成所述第i校验位的生成多项式,其中i是1以上且n以下的整数。 | ||
地址 | 日本东京都 |