发明名称 一种大惯量单轴气浮台高精度测试方法
摘要 一种大惯量单轴气浮台高精度测试方法,涉及测量技术领域,本发明为了解决现有的气浮台高精度测试方法存在测试成本高、操作复杂等问题。步骤如下:将气浮台缓慢转动一周半,确保光栅清零;给气浮台一个很小的初始速度;待气浮台转动到近四分之一后,光栅测角程序每隔时间t<sub>0</sub>取一个点,连续取9次,记为β<sub>i</sub>(i=0,1,…,8);计算干扰力矩M<sub>1</sub>,其中J为事先测得的气浮台绕旋转轴的转动惯量;待气浮台分别转动到近二分之一、四分之三、一周后,分别重复步骤四~五,得到干扰力矩M<sub>2</sub>,M<sub>3</sub>,M<sub>4</sub>;综合求得干扰力矩<img file="DDA00003045106500011.GIF" wi="544" he="111" />本发明所述的大惯量单轴气浮台高精度测试方法,计算简单、成本低、误差较小、实用性强。
申请公布号 CN103234674A 申请公布日期 2013.08.07
申请号 CN201310127204.7 申请日期 2013.04.12
申请人 哈尔滨工业大学 发明人 王岩;赵明;史月;付振宪
分类号 G01L3/00(2006.01)I 主分类号 G01L3/00(2006.01)I
代理机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人 杨立超
主权项 1.一种大惯量单轴气浮台高精度测试方法,其特征在于:所述方法按照以下步骤来实现:步骤一:将气浮台调节平衡;步骤二:将气浮台缓慢转动一周半,确保光栅清零;步骤三:给气浮台一个初始速度,初始速度的取值范围为0.001rad/s到0.004rad/s;步骤四:待气浮台的角度转动到四分之一后,光栅测角程序每隔时间t<sub>0</sub>记录光栅在上位机的转角位置,连续记录9次,记为β<sub>i</sub>(i=0,1,…,8),t<sub>0</sub>根据测角仪器的测量精度选取,β<sub>i</sub>表示角度值;步骤五:按照公式<img file="FDA00003045106200011.GIF" wi="469" he="197" />i=1,2,…,4计算干扰力矩M<sub>1</sub>,其中J为预先测得的气浮台绕旋转轴的转动惯量;步骤六:气浮台继续旋转,待气浮台的角度分别转动到二分之一、四分之三、一周位置处,分别重复步骤四~五,得到干扰力矩M<sub>2</sub>,M<sub>3</sub>,M<sub>4</sub>;步骤七:综合求得干扰力矩<maths num="0001"><![CDATA[<math><mrow><mi>M</mi><mo>=</mo><mfrac><mrow><msub><mi>M</mi><mn>1</mn></msub><mo>+</mo><msub><mi>M</mi><mn>2</mn></msub><mo>+</mo><msub><mi>M</mi><mn>3</mn></msub><mo>+</mo><msub><mi>M</mi><mn>4</mn></msub></mrow><mn>4</mn></mfrac><mo>.</mo></mrow></math>]]></maths>
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号