发明名称 | 紫外选择性硅雪崩光电探测芯片 | ||
摘要 | 本发明提出的一种紫外选择性硅雪崩探测芯片,P+光吸收层(4)以小于200nm的厚度相连N型层(3),N+欧姆接触层(5)对称于P+光吸收层(4),在N+欧姆接触层(5)的两边,设有高掺杂深扩散区穿通整个N-型外延层(2),使雪崩区之外的整个芯片处于同一电位的P+深扩散区(6),该P+深扩散区(6)通过N-型外延层(2)上端平面设置的氮化硅钝化层(9),经芯片阳极(7)、芯片阴极(8)与N+欧姆接触层(5)互连。本发明以超浅的光吸收层避免光生载流子在表面附近复合,在电场的加速作用下产生碰撞离化效应,实现光生载流子的雪崩倍增;通过高掺杂深扩散区穿通整个外延层,实现对紫外波段的选择性探测。 | ||
申请公布号 | CN103208555A | 申请公布日期 | 2013.07.17 |
申请号 | CN201210566512.5 | 申请日期 | 2012.12.24 |
申请人 | 西南技术物理研究所 | 发明人 | 周红轮;刘小会;曾璞 |
分类号 | H01L31/107(2006.01)I | 主分类号 | H01L31/107(2006.01)I |
代理机构 | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人 | 郭纯武 |
主权项 | 一种紫外选择性硅雪崩探测芯片,包括位于P型硅衬底(1)上的N‑型外延层(2)和位于N‑型外延层(2)上的芯片阳极(7)、芯片阴极(8)及氮化硅钝化层(9),以及位于N‑型外延层(2)中部平面下方与P+型光吸收层(4)重叠的N型层(3),其特征在于,P+光吸收层(4)以小于200 nm的厚度相连N型层(3),N+欧姆接触层(5)对称于P+光吸收层(4),在N+欧姆接触层(5)的两边,设有高掺杂深扩散区穿通整个N‑型外延层(2),使雪崩区之外的整个芯片处于同一电位的P+深扩散区(6),该P+深扩散区(6)通过N‑型外延层(2)上端平面设置的氮化硅钝化层(9),经芯片阳极(7)、芯片阴极(8)与N+欧姆接触层(5)互连。 | ||
地址 | 610041 四川省成都市武侯区人民南路四段七号 |