I-V二阶微分测量方法及装置

摘要

本发明公开了一种I-V二阶微分测量方法及装置。该装置包括直流信号源、函数发生器、具有分压作用的交直流加法器、前置放大器，锁相放大器及环境条件控制系统；该方法是：将选定频率的交流小信号通过交直流加法器与直流偏压叠加，共同作用于测试样品，含有测试样品信息的信号经前置放大器放大转换成电压信号，由锁相测量倍频信号电压。本发明的优点至少在于：（1）交直流加法器交流通路里含有分压器；（2）交流信号由函数发生器提供，精度较高，并经过分压后幅度很小，降低了其对直流偏置信号的影响，提高了信噪比；（3）直接测量I-V二阶微分随外界条件的变化曲线，方法简单，结果精确直观，并且对测试者电路设计水平要求不高。

主权项

一种I‑V二阶微分测量方法，其特征在于，该方法为：将采用函数发生器产生的、具有选定频率的交流信号通过具有分压作用的交直流加法器分压后，再与直流偏压叠加，并共同作用于测试样品，获得含有测试样品信息的信号，该含有测试样品信息的信号经前置放大器放大转换成电压信号，并通过锁相放大器改变参考通道的频率，由锁相放大器测量该电压信号，从而获得二次谐波的电压信号，也就是I‑V二阶微分的有效信号；所述交直流加法器包括电感（13）、第一电阻（10）、第二电阻（11）和电容（14），所述电感（13）一端与直流信号输入端口（12）连接，另一端与电容（14）一端和输出端口（15）连接，电容（14）另一端分别与第一电阻（10）和第二电阻（11）一端连接，第一电阻（10）另一端与交流信号输入端口（9）连接，第二电阻（11）另一端接地。