| 摘要 |
<p>구성의 간소화 및 생산성의 향상을 도모할 수 있는 프로브 카드 및 반도체 디바이스 테스트 소켓을 개시한다. 개시된 프로브 카드는, 회로패턴 및 상기 회로패턴과 전기적으로 연결된 관통공을 구비한 인쇄회로기판; 상기 인쇄회로기판의 일측면에 고정되어 있는 지지블록; 일단이 상기 지지블록의 관통공에 삽입고정되고 타단이 상기 인쇄회로기판의 관통공에 삽입고정되되 상기 지지블록의 관통공에서 상기 인쇄회로기판의 상기 관통공까지 바로 연장되는 복수의 와이어; 및 상기 지지블록과 상기 인쇄회로기판 사이에 개재되는 탄성부재를 포함하는 것을 특징으로 한다.</p> |
