发明名称 存储器中读操作参考电流的结构
摘要 本发明公开了一种存储器中读操作参考电流的结构;分布选取产生参考电流的存储单元,在存储阵列的中间位置和上下边缘加入作为参考电流产生单元的行,按照X方向地址分布平均选取N比特单元;与工艺偏差无关的参考电流产生电路,将选取的N比特单元电流相加再取平均值,即得到该参考电流。本发明通过选取存储阵列不同区域单元,取其平均电流的方法,有效避免了在工艺实现中产生的电流偏差问题,具有较高的可靠性,尤其在大容量存储器应用中优势更为明显。
申请公布号 CN103065681A 申请公布日期 2013.04.24
申请号 CN201110322548.4 申请日期 2011.10.21
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 郭璐;金建明
分类号 G11C16/06(2006.01)I 主分类号 G11C16/06(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 孙大为
主权项 一种存储器中读操作参考电流的结构;其特征在于,分布选取产生参考电流的存储单元,在存储阵列的中间位置和上下边缘加入作为参考电流产生单元的行,按照X方向地址分布平均选取N比特单元;与工艺偏差无关的参考电流产生电路,将选取的N比特单元电流相加再取平均值,即得到该参考电流。
地址 201206 上海市浦东新区川桥路1188号
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