发明名称 | 存储器中读操作参考电流的结构 | ||
摘要 | 本发明公开了一种存储器中读操作参考电流的结构;分布选取产生参考电流的存储单元,在存储阵列的中间位置和上下边缘加入作为参考电流产生单元的行,按照X方向地址分布平均选取N比特单元;与工艺偏差无关的参考电流产生电路,将选取的N比特单元电流相加再取平均值,即得到该参考电流。本发明通过选取存储阵列不同区域单元,取其平均电流的方法,有效避免了在工艺实现中产生的电流偏差问题,具有较高的可靠性,尤其在大容量存储器应用中优势更为明显。 | ||
申请公布号 | CN103065681A | 申请公布日期 | 2013.04.24 |
申请号 | CN201110322548.4 | 申请日期 | 2011.10.21 |
申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 郭璐;金建明 |
分类号 | G11C16/06(2006.01)I | 主分类号 | G11C16/06(2006.01)I |
代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人 | 孙大为 |
主权项 | 一种存储器中读操作参考电流的结构;其特征在于,分布选取产生参考电流的存储单元,在存储阵列的中间位置和上下边缘加入作为参考电流产生单元的行,按照X方向地址分布平均选取N比特单元;与工艺偏差无关的参考电流产生电路,将选取的N比特单元电流相加再取平均值,即得到该参考电流。 | ||
地址 | 201206 上海市浦东新区川桥路1188号 |