发明名称 | 主动元件阵列以及检测方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种主动元件阵列以及检测方法,所述一种主动元件阵列包括多条扫描线、多条数据线、多个像素结构、一第一检测线路、一第二检测线路、一第三检测线路以及一第四检测线路。各像素结构电连接其中一条扫描线与其中一条数据线。第一检测线路电连接奇数条的扫描线。第二检测线路电连接第4n+1条的扫描线。在此,n为0或正整数。第三检测线路电连接偶数条的扫描线。第四检测线路电连接第4n+2条的扫描线。本发明的主动元件阵列及检测方法可以有效地检测出线路中的缺陷,而有助于提升主动元件阵列的成品率。 | ||
申请公布号 | CN102043292B | 申请公布日期 | 2013.03.27 |
申请号 | CN200910178483.3 | 申请日期 | 2009.10.13 |
申请人 | 胜华科技股份有限公司 | 发明人 | 王志昌;张志铭;吴俊杰 |
分类号 | G02F1/1362(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/1362(2006.01)I |
代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 任默闻 |
主权项 | 一种主动元件阵列,其特征在于,所述主动元件阵列包括:多条扫描线,彼此平行排列,以在所述这些扫描线的延伸方向上定义出相对的一第一区以及一第二区;多条数据线,所述这些数据线的延伸方向与所述这些扫描线的延伸方向相交,且所述这些数据线位于所述第一区以及所述第二区之间;多个像素结构,位于所述第一区以及所述第二区之间,且各所述像素结构由其中一所述扫描线与其中一所述数据线驱动,其中所述多个像素结构依照其所连接的所述扫描线分为多群像素结构;一第一检测线路,位于所述第一区,并电连接奇数条的所述这些扫描线,且奇数条的所述扫描线连接奇数群所述像素结构;一第二检测线路,位于所述第一区,并电连接第4n+1条的所述这些扫描线,其中n为0或正整数,且第4n+1条的所述这些扫描线连接第4n+1群所述像素结构;一第三检测线路,位于所述第二区,并电连接偶数条的所述这些扫描线,且偶数条的所述这些扫描线连接偶数群所述像素结构;以及一第四检测线路,位于所述第二区,并电连接第4n+2条的所述这些扫描线,且第4n+2条的所述这些扫描线连接第4n+2群所述像素结构。 | ||
地址 | 中国台湾台中县 |