发明名称 相变化记忆体之多晶矽栓塞双极性电晶体
摘要 本发明系关于记忆装置及其制造方法。记忆装置包括复数个记忆胞,且每个记忆胞包括双极性接面电晶体与记忆元件。该双极性接面电晶体系以共集极组态方式耦接,且包括射极。射极包括具有第一导电性之掺杂多晶矽,且与一条对应字元线连接以定义出一pn接面。双极性接面电晶体亦包括基极与集极,其中基极系利用位于该射极下方的该条对应字元线一部分所形成,且集极包括位于基极下方的该单晶半导体基材一部分。
申请公布号 TWI385790 申请公布日期 2013.02.11
申请号 TW098112675 申请日期 2009.04.16
申请人 旺宏电子股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区力行路16号;国际商业机器股份有限公司 美国 发明人 龙翔澜;林仲汉;赖二琨;毕平 拉詹德南
分类号 H01L27/102;H01L27/24;H01L21/8229 主分类号 H01L27/102
代理机构 代理人 李贵敏 台北市内湖区民权东路6段109号2楼之1
主权项
地址 美国