发明名称 |
相变化记忆体之多晶矽栓塞双极性电晶体 |
摘要 |
本发明系关于记忆装置及其制造方法。记忆装置包括复数个记忆胞,且每个记忆胞包括双极性接面电晶体与记忆元件。该双极性接面电晶体系以共集极组态方式耦接,且包括射极。射极包括具有第一导电性之掺杂多晶矽,且与一条对应字元线连接以定义出一pn接面。双极性接面电晶体亦包括基极与集极,其中基极系利用位于该射极下方的该条对应字元线一部分所形成,且集极包括位于基极下方的该单晶半导体基材一部分。 |
申请公布号 |
TWI385790 |
申请公布日期 |
2013.02.11 |
申请号 |
TW098112675 |
申请日期 |
2009.04.16 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区力行路16号;国际商业机器股份有限公司 美国 |
发明人 |
龙翔澜;林仲汉;赖二琨;毕平 拉詹德南 |
分类号 |
H01L27/102;H01L27/24;H01L21/8229 |
主分类号 |
H01L27/102 |
代理机构 |
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代理人 |
李贵敏 台北市内湖区民权东路6段109号2楼之1 |
主权项 |
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地址 |
美国 |