发明名称 |
基于探针的磁传感器测试方法及其系统 |
摘要 |
本发明涉及一种基于探针的磁传感器测试方法及其系统,其中基于探针的磁传感器测试方法,包括以下步骤:根据待测磁传感器的电路制作包括探针的探针卡,将待测磁传感器放置在测试台上;在X轴上设置至少一个磁线圈,通过控制所述磁线圈的电流大小和方向,来控制所述测试台X轴上的磁场方向及磁场强度;根据待测磁传感器的输出,计算出待测磁传感器X轴的偏置输出和/或灵敏度;通过电机控制所述探针与测试台上待测磁传感器的接触,直至测试台上待测磁传感器全部测试完毕。本发明涉及的基于探针的磁传感器测试方法及其系统,大大提高测试密度及测试效率,使得磁传感器的测试更具灵活性,且有效降低测试成本,有利于磁传感器的大规模生产和应用。 |
申请公布号 |
CN102866374A |
申请公布日期 |
2013.01.09 |
申请号 |
CN201110187030.4 |
申请日期 |
2011.07.05 |
申请人 |
美新半导体(无锡)有限公司 |
发明人 |
刘海东;顾浩琦;丁雪龙 |
分类号 |
G01R35/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R35/00(2006.01)I |
代理机构 |
无锡互维知识产权代理有限公司 32236 |
代理人 |
王爱伟 |
主权项 |
一种基于探针的磁传感器测试方法,其特征在于:其包括以下步骤:根据待测磁传感器的电路制作包括探针的探针卡,将待测磁传感器放置在测试台上;在X轴上设置至少一个磁线圈,通过控制所述磁线圈的电流大小和方向,来控制所述测试台X轴上的磁场方向及磁场强度;根据待测磁传感器的输出,计算出待测磁传感器X轴的偏置输出和/或灵敏度;通过电机控制所述探针与测试台上待测磁传感器的接触,直至测试台上待测磁传感器全部测试完毕。 |
地址 |
214000 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区新辉环路2号 |