发明名称 基于探针的磁传感器测试方法及其系统
摘要 本发明涉及一种基于探针的磁传感器测试方法及其系统,其中基于探针的磁传感器测试方法,包括以下步骤:根据待测磁传感器的电路制作包括探针的探针卡,将待测磁传感器放置在测试台上;在X轴上设置至少一个磁线圈,通过控制所述磁线圈的电流大小和方向,来控制所述测试台X轴上的磁场方向及磁场强度;根据待测磁传感器的输出,计算出待测磁传感器X轴的偏置输出和/或灵敏度;通过电机控制所述探针与测试台上待测磁传感器的接触,直至测试台上待测磁传感器全部测试完毕。本发明涉及的基于探针的磁传感器测试方法及其系统,大大提高测试密度及测试效率,使得磁传感器的测试更具灵活性,且有效降低测试成本,有利于磁传感器的大规模生产和应用。
申请公布号 CN102866374A 申请公布日期 2013.01.09
申请号 CN201110187030.4 申请日期 2011.07.05
申请人 美新半导体(无锡)有限公司 发明人 刘海东;顾浩琦;丁雪龙
分类号 G01R35/00(2006.01)I 主分类号 G01R35/00(2006.01)I
代理机构 无锡互维知识产权代理有限公司 32236 代理人 王爱伟
主权项 一种基于探针的磁传感器测试方法,其特征在于:其包括以下步骤:根据待测磁传感器的电路制作包括探针的探针卡,将待测磁传感器放置在测试台上;在X轴上设置至少一个磁线圈,通过控制所述磁线圈的电流大小和方向,来控制所述测试台X轴上的磁场方向及磁场强度;根据待测磁传感器的输出,计算出待测磁传感器X轴的偏置输出和/或灵敏度;通过电机控制所述探针与测试台上待测磁传感器的接触,直至测试台上待测磁传感器全部测试完毕。
地址 214000 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区新辉环路2号
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