发明名称 用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统
摘要 本发明公开了一种用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统,其包括:转盘模块、进料模块、无振动模块、检测模块及分类模块。转盘模块包括一中空透明转盘结构,其上表面具有至少两个环形导引区域,且多个电子元件依序排列在两个环形导引区域上。进料单元具有两个用于导引多个电子元件的V形进料槽。无振动模块包括一无振动导引块,其具有两个分别连通于两个V形进料槽且分别对应于两个环形导引区域的V形无振动导引槽,且多个在两个V形进料槽内的电子元件依序被两个V形无振动导引槽导引到两个环形导引区域上,以供检测模块与分类模块分别进行检测与分类。本发明可以更正确地检测到多个电子元件的外观。
申请公布号 CN102749333A 申请公布日期 2012.10.24
申请号 CN201110098222.8 申请日期 2011.04.18
申请人 久元电子股份有限公司 发明人 汪秉龙;陈桂标;陈信呈;倪仁君
分类号 G01N21/88(2006.01)I 主分类号 G01N21/88(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人 冯志云;郑特强
主权项 一种用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统,其特征在于,包括:一转盘模块,其包括一旋转底盘结构及一设置于该旋转底盘结构上的中空透明转盘结构,其中该中空透明转盘结构的下表面区分成一内圈区域与一围绕该内圈区域的外圈区域,该中空透明转盘结构的内圈区域被该旋转底盘结构所遮盖,该中空透明转盘结构的外圈区域被裸露在外,该中空透明转盘结构的上表面具有至少两个位于该外圈区域上方的环形导引区域,且上述多个电子元件依序排列在上述至少两个环形导引区域上;一进料模块,其包括至少一邻近该中空透明转盘结构的进料单元,其中上述至少一进料单元具有至少两个用于导引上述多个电子元件的V形进料槽;一无振动模块,其包括至少一邻近该中空透明转盘结构且设置于该中空透明转盘结构与该进料模块之间的无振动导引块,其中上述至少一无振动导引块具有至少两个分别连通于上述至少两个V形进料槽且分别对应于上述至少两个环形导引区域的V形无振动导引槽,且上述多个在上述至少两个V形进料槽内的电子元件依序被上述至少两个V形无振动导引槽导引到上述至少两个环形导引区域上;以及一检测模块,其包括多个邻近该中空透明转盘结构的电子元件检测单元,其中上述多个电子元件检测单元依序围绕该中空透明转盘结构;以及一分类模块,其邻近该中空透明转盘结构且设置于该进料模块与上述多个电子元件检测单元中的最后一个之间。
地址 中国台湾新竹市