| 主权项 |
一种对新世代周边连接介面的测试系统，用于测试具有新世代周边连接介面(Peripheral Component Interconnect Express)的待测主机，该测试系统包括有：一待测主机，该待测主机更包括有一处理单元、一新世代周边连接介面之插槽与一储存单元，该储存单元用以储存对新世代周边连接介面之一虚拟热插拔(hot plugging)程序与一测试程序，该处理单元电性连接于该新世代周边连接介面与该储存单元，该处理单元分别执行该虚拟热插拔程序与该测试程序；以及一测试治具，电性连接于该新世代周边连接介面之插槽，该测试治具包括有一新世代周边连接介面控制器，该测试程序透过新世代周边连接介面传输复数笔测试讯号至该新世代周边连接介面控制器，该测试程序根据该新世代周边连接介面控制器所回传的一回覆讯号用以解析该新世代周边连接介面之插槽的运作状态。如申请专利范围第1项所述之对新世代周边连接介面的测试系统，其中该测试程序中更包括复数笔测试项目，该些测试项目系为介面版本测试、电力测试、系统管理总线(System Management Bus，SMB)、JTAG(Joint Test Action Group)测试、唤醒测试、预先重设测试、差分时脉及资料之测试与/或频宽(lane)测试。如申请专利范围第2项所述之对新世代周边连接介面的测试系统，其中该测试治具中更包括一服务讯息阻挡控制器，该测试程序中的服务讯息阻挡测试用以写入及读取该服务讯息阻挡控制器之暂存器资料，使得该测试程序用以判断该服务讯息阻挡控制器之运作是否正确。如申请专利范围第2项所述之对新世代周边连接介面的测试系统，其中频宽测试包括以下步骤：分别切换该新世代周边连接介面的X1、X4、X8、X16或X32的频宽。如申请专利范围第1项所述之对新世代周边连接介面的测试系统，其中在该虚拟热插拔测试过程中，更包括以下步骤：关闭该测试治具之电力；经过一第一时间后重新致能该测试治具的电力；由该测试治具发送一热插拔回覆讯号至该处理单元；以及进行该测试程序。一种对新世代周边连接介面的测试方法，用于测试具有新世代周边连接介面(Peripheral Component Interconnect Express)的待测主机，该测试方法包括以下步骤：安装一测试治具至一待测主机的一新世代周边连接介面之插槽，并将该测试治具设定为第一运作模式；在该待测主机上执行一测试程序，用以发送复数笔测试讯号至该测试治具；传送复数笔回覆讯号至该测试程序；由该测试治具执行一虚拟热插拔测试，使得该测试治具被禁能；经过一第一时间后，将该测试治具致能并将该测试治具切换至第二运作模式；以及重复执行该测试程序。如申请专利范围第6项所述之对新世代周边连接介面的测试方法，其中该测试程序中包括以下步骤：分别切换该新世代周边连接介面的X1、X4、X8、X16或X32的频宽。如申请专利范围第6项所述之对新世代周边连接介面的测试方法，其中在该虚拟热插拔测试过程中，更包括以下步骤：关闭该测试治具之电力；经过一第一时间后重新致能该测试治具的电力；由该测试治具发送一热插拔回覆讯号至该处理单元；以及进行该测试程序。 |
