电子元件耐压测试设备及方法

摘要

一种电子元件耐压测试设备包括波形发生单元、功率放大单元、变压单元、讯号调节单元及检测模组。其中，波形发生单元用于产生振荡讯号；功率放大单元用于将所述振荡讯号功率放大，以得到功率放大讯号；变压单元用于改变所述功率放大讯号电压，以得到变压讯号；讯号调节单元用于隔离所述变压讯号中的反向电压讯号以得到测试讯号；检测模组用于当所述测试讯号施加到所述待测元件时检测所述待测元件，以得到检测资料。此外，还提供了一种电子元件耐压测试方法。