发明名称 测试装置、测试方法以及电子元件
摘要 本发明的目的是提供一种测试装置,为一种对被测试元件进行测试的测试装置,包括:图案记忆体,其以压缩形式存储着测试命令列,该测试命令列规定了用于测试被测试元件的测试序列;扩展部,其将从图案记忆体所读出的测试命令列以非压缩形式进行展开;命令快取部,其将扩展部所展开的测试命令列进行快取;图案产生部,其依次读出在命令快取部中所存储的命令并实行,且产生相对于所执行的命令的测试图案;以及信号输出部,其根据测试图案而生成测试信号,并供给到被测试元件。
申请公布号 TWI365996 申请公布日期 2012.06.11
申请号 TW097112681 申请日期 2008.04.08
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 山田达也;村田清志
分类号 G01R31/317;G01R31/28 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本