发明名称 XMR-Sensoren mit ausgeprägter Formanisotropie
摘要 <p>Ausführungsbeispiele beziehen sich auf xMR-Sensoren, die eine sehr ausgeprägte Formanisotropie aufweisen. Ausführungsbeispiele beziehen sich außerdem auf neuartige Strukturierungsprozesse von xMR-Stapeln, um sehr ausgeprägte Formanisotropien zu erzielen, ohne das für die Leistungsfähigkeit relevante magnetfeldempfindliche Schichtsystem chemisch zu beeinflussen und dabei gleichzeitig vergleichsweise einheitliche Strukturbreiten über einen Wafer hinweg bereitzustellen, bei Ausführungsbeispielen bis auf etwa 100 nm. Ausführungsbeispiele können auch xMR-Stapel liefern, die Seitenwände des für die s aufweisen, die glatt sind und/oder eine definierte laterale Geometrie aufweisen, was wichtig ist, um ein homogenes magnetisches Verhalten über den Wafer hinweg zu erzielen.</p>
申请公布号 DE102011085955(A1) 申请公布日期 2012.05.16
申请号 DE20111085955 申请日期 2011.11.08
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 KUEHN, OLAF;PRUEGL, KLEMENS;SCHLEDZ, RALF;STRASER, ANDREAS, DR.;THYSSEN, NORBERT;ZIMMER, JUERGEN
分类号 H01L43/08;G01R33/09;H01L27/22;H01L43/12 主分类号 H01L43/08
代理机构 代理人
主权项
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