发明名称 Device with a beam of charged particles and method of measuring thickness of thin lamellas
摘要 <p>Zarízení se svazkem nabitých cástic podle vynálezu obsahuje transmisní elektronový detektor (113; 206), jehož detekcní cást je rozdelena na množství regionu (201 až 205; 301 až 305). Zarízení vypocte tlouštku plátku vzorku tím, že detekuje transmisní elektronový paprsek (112), který pri ozarování vzorku elektronovým paprskem (109) vzorek generuje, jako signály z ruzných regionu odpovídacích ruzným úhlum rozptylu transmisního elektronového paprsku, a poté vypocte intenzity jednotlivých signálu. Výše popsané zarízení se svazkem nabitých cástic podle vynálezu je schopno provádet presnou kontrolu tlouštky plátku, pricemž potlacuje chyby vyplývající z vnejších podmínek. Rovnež je schopno tenkovrstvé vzorky zpracovávat na vzorky mající presnou tlouštku plátku, címž dovoluje zlepšit presnost pri pozorování struktur a analýze prvku.</p>
申请公布号 CZ20120225(A3) 申请公布日期 2012.05.09
申请号 CZ20120000225 申请日期 2010.10.12
申请人 HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION 发明人 TOMINATSU SATOSHI;ONISHI TSUYOSHI;AGEMURA TOSHIHIDE;NANRI TERUTAKA
分类号 H01J37/244;H01J37/28;H01J37/30;H01J37/305 主分类号 H01J37/244
代理机构 代理人
主权项
地址