发明名称 三维测量系统及其三维扫描装置
摘要 本发明涉及一种三维测量系统,包括一定位定姿装置、一通过扫描获取一被测目标物体的几何数据的360度的激光扫描仪、一具有一旋转中心且绕所述旋转中心水平旋转的电子转台、一获取所述电子转台的绝对位置数据的定位定姿装置及一将所述电子转台的绝对位置数据和所述激光扫描仪获取的几何数据进行融合处理的数据处理装置,所述定位定姿装置及所述激光扫描仪安装在所述电子转台上,所述激光扫描仪的一扫描面与所述电子转台之间具有一特定角度。本发明还提供一种三维扫描装置,所述三维扫描装置及三维测量系统实现了对被测物体的全方位扫描和测量。
申请公布号 CN102338617A 申请公布日期 2012.02.01
申请号 CN201010236272.3 申请日期 2010.07.22
申请人 首都师范大学 发明人 钟若飞;宫辉力;王留召;刘先林
分类号 G01B11/00(2006.01)I 主分类号 G01B11/00(2006.01)I
代理机构 北京市惠诚律师事务所 11353 代理人 雷志刚
主权项 一种三维扫描装置,包括一具有360度扫描视场的激光扫描仪及一具有一旋转中心且绕所述旋转中心水平旋转的电子转台,所述激光扫描仪安装在所述电子转台上,所述激光扫描仪的一扫描面与所述电子转台之间具有一特定角度。
地址 100048 北京市海淀区西三环北路105号
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