| 发明名称 | 用于耐紫外测试装置中的试样架 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种试样架，提供了一种用于耐紫外测试装置中的试样架，包括两侧设有折边的前端面，开设在前端面上的通孔，嵌在前端面的两侧折边内的后端面，撑在两侧折边内的支撑条，本实用新型利用弹性支撑条，可以固定后端面和样品不会掉落。本实用新型操作简单，可以直观地装载不同需要的试样用于测试紫外光性能。 | ||
| 申请公布号 | CN202101922U | 申请公布日期 | 2012.01.04 |
| 申请号 | CN201120135221.1 | 申请日期 | 2011.04.29 |
| 申请人 | 上海天祥质量技术服务有限公司 | 发明人 | 龚晓阳 |
| 分类号 | G01N17/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N17/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海金盛协力知识产权代理有限公司 31242 | 代理人 | 罗大忱 |
| 主权项 | 用于耐紫外测试装置中的试样架，其特征在于，包括：两侧设有折边(101)的前端面(1)；开设在前端面(1)上的通孔(2)；嵌在前端面(1)的两侧折边(101)内的后端面(3)；撑在两侧折边内的支撑条(4)。 | ||
| 地址 | 200122 上海市浦东新区崂山西路201号1605室 | ||