发明名称 |
离心清洗高密度器件的工艺方法 |
摘要 |
本发明提出的一种离心清洗高密度器件的工艺方法,旨在提供一种既不损伤元器件,又能高效干净清洗BGA、CSP的离心清洗工艺方法。本发明通过下述技术方案予以实现:首先将待洗高密度器件印制板组装件(PCBA)浸泡于离心清洗设备中的清洗溶液中,浸泡3-5分钟,然后将待洗PCBA用旋转臂夹持后,伸入密封腔体内,浸入清洗溶液内,实施正、反循环旋转进行离心清洗,正转/反转数次后,随后,在同一离心清洗设备中,分阶段对上述PCBA上的元器件进行喷淋清洗和漂洗工序。本发明解决了低架空高度、高密度封装的BGA、CSP底部难以清洗干净的难题,避免了超声波清洗对器件损害的缺陷。可专用于BGA、CSP器件的离心清洗。 |
申请公布号 |
CN102233339A |
申请公布日期 |
2011.11.09 |
申请号 |
CN201010514137.0 |
申请日期 |
2010.10.19 |
申请人 |
中国电子科技集团公司第十研究所 |
发明人 |
阎德劲 |
分类号 |
B08B3/04(2006.01)I;B08B3/02(2006.01)I |
主分类号 |
B08B3/04(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种离心清洗高密度器件的工艺方法,包括如下步骤,首先将待洗高密度器件印制板组装件(PCBA)浸泡于离心清洗设备中的清洗溶液中,浸泡3‑5分钟,然后将待洗PCBA用旋转臂夹持后,伸入密封腔体内,浸入清洗溶液内,实施正、反循环旋转进行离心清洗,正转/反转数次后,随后,在同一离心清洗设备中,分阶段对上述PCBA上的元器件进行喷淋清洗和漂洗工序。 |
地址 |
610036 四川省成都市茶店子营康路85号 |