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1.一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法，其特征在于该方法包括以下步骤： （1）在具有相同占空比T<sub>on</sub>、不同电流驱动信号周期T的驱动下，对至少6个样本的AMOLED微型显示器在初始亮度L<sub>0</sub>的亮度下进行器件的加速老化测试，其中，占空比T<sub>on</sub>为使用时间t<sub>1</sub>与驱动信号周期T比值，占空比T<sub>on</sub>值在0至1之间，驱动信号周期T在500ms以下，初始亮度L<sub>0</sub>至少为1000cd/m2；（2）对该加速老化过程建立亮度衰减的理论模型即SED理论模型，并计算出各个样本在加速老化测试中相对应的半衰期t<sub>1/2</sub>；SED理论模型的数学表达式为：<img file="653182DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="158" he="61" />其中，t为衰减时间，L<sub>(t)</sub>为对应时刻的亮度，L<sub>0</sub>为初始亮度，τ和β为两个待定系数，通过拟合L-t曲线，求出τ和β，令L<sub>(t)</sub>/L<sub>0</sub>=0.5，则可求出半衰期t<sub>1/2</sub>；（3）对亮度衰减的理论模型进行分析，通过步骤（2）所计算得出的不同样本β偏差值评估同一批器件的均匀性、结构稳定性，β偏差越小，则生产均匀性越好，β偏差越大，则生产均匀性越不好，β的相对偏差应在10%以内；（4）建立寿命推算模型，推算模型的数学表达式为：<img file="146392DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="95" he="29" />其中，L<sub>0</sub>为初始亮度，t<sub>1/2</sub>为半衰期，根据上述步骤中各个样本的L<sub>0</sub>取值和计算出的相对应的t<sub>1/2</sub>值，通过拟合求出n和C确定该表达式，然后根据显示器实际使用亮度L<sub>obj</sub>值，求出L<sub>obj</sub>下的t<sub>1/2</sub>值。 |
