发明名称 金属材料的组织材质计测装置
摘要 本发明提供了一种金属材料的组织材质计测装置,能够容易地调整为了使脉冲超声波在金属材料内部传播而向上述金属材料照射的激光的照射位置和激光干涉仪的检测位置的相对位置,并且能够以高精度计测金属材料的组织材质。为了达到所述目的,使来自激光振荡器的激光照射位置和激光干涉仪的检测位置可以相对移动地进行构成,并根据从发送脉冲超声波到被激光干涉仪检测到为止的时间,使来自激光振荡器的激光照射位置和激光干涉仪的检测位置和相应于计测的金属材料的组织材质的相对位置吻合而进行控制。因此,在上述对位完成之后,根据激光干涉仪作为电信号而输出的脉冲超声波的波形,算出金属材料的组织材质。
申请公布号 CN101395467B 申请公布日期 2011.04.27
申请号 CN200780007405.6 申请日期 2007.01.11
申请人 东芝三菱电机产业系统株式会社 发明人 佐野光彦;小原一浩
分类号 G01N29/00(2006.01)I 主分类号 G01N29/00(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 张鑫
主权项 一种金属材料的组织材质计测装置,是一种计测金属材料的组织材质的金属材料的组织材质计测装置,其特征在于,包括:向所述金属材料的一面照射激光,以向所述金属材料内发送脉冲超声波的激光振荡器;在与所述金属材料的一面相反侧的另一面上,检测在所述金属材料内部传播的所述脉冲超声波,并将其作为电信号输出的激光干涉仪;使来自所述激光振荡器的激光照射位置和所述激光干涉仪的检测位置可以相对移动而构成的移动单元;通过根据从发送所述脉冲超声波到被所述激光干涉仪检测出为止的时间来控制所述移动单元,从而使来自所述激光振荡器的激光在所述金属材料的所述一面的照射位置和所述激光干涉仪在所述金属材料的所述另一面的检测位置、与相应于计测的所述金属材料的组织材质的相对位置吻合的控制单元;以及基于所述激光干涉仪作为电信号而输出的所述脉冲超声波的波形,计算出所述金属材料的组织材质的计算单元。
地址 日本东京