发明名称 集成电路芯片封装成型质量视觉检测系统
摘要 一种集成电路芯片封装成型质量视觉检测系统,其特征在于:主要由光源、背光板、光学镜头、CCD图像传感器、图像采集卡、PC机组成,其中,光源位于背光板后方或端部,光学镜头位于背光板前方,被测芯片的定位面位于背光板与光学镜头之间,CCD图像传感器位于光学镜头对应被测芯片定位面的聚焦位置上,以此构成一种背光取像结构;CCD图像传感器的输出端与图像采集卡的输入端相连,图像采集卡的输出端与PC机的输入端相连。该系统可以检测集成电路芯片封装成型后的料片方向、芯片脚数、脚间距、脚弯、脚伤、脚断以及堤坝未切等质量指标,大大提高了检测效率。
申请公布号 CN201681051U 申请公布日期 2010.12.22
申请号 CN200920282738.6 申请日期 2009.12.24
申请人 苏州均华精密机械有限公司 发明人 周鑫
分类号 G01N21/84(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I 主分类号 G01N21/84(2006.01)I
代理机构 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人 马明渡
主权项 一种集成电路芯片封装成型质量视觉检测系统,其特征在于:主要由光源、背光板、光学镜头、CCD图像传感器、图像采集卡、PC机组成,其中,光源位于背光板后方或端部,光学镜头位于背光板前方,被测芯片的定位面位于背光板与光学镜头之间,CCD图像传感器位于光学镜头对应被测芯片定位面的聚焦位置上,以此构成一种背光取像结构;CCD图像传感器的输出端与图像采集卡的输入端相连,图像采集卡的输出端与PC机的输入端相连。
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