发明名称 测试装置
摘要
申请公布号 TWI332084 申请公布日期 2010.10.21
申请号 TW096110003 申请日期 2007.03.22
申请人 友达光电股份有限公司 发明人 赖裕仁
分类号 G01N3/34 主分类号 G01N3/34
代理机构 代理人 祁明辉 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼之2;林素华 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼之2
主权项 一种测试装置,用以测试至少一按键之可靠度或寿命,该测试装置包括:至少一施压机构,包括:一第一推动件;一第二推动件;一第一弹性体,系设置于该第一推动件及该第二推动件之间,该第一推动件及该第二推动件系相互移动一挤压距离,以挤压该第一弹性体,并产生一按压力;及一调整元件,用以微调该挤压距离;以及至少一按压机构,包括:一撞针,系设置于该施压机构及该按键之间,该按压力推动该撞针朝该按键移动于一按压行程之内;一固定件,部分之该撞针系贯穿该固定件,该固定件用以限制该撞针朝该按键移动于该按压行程内;以及一第二弹性体,系设置于该固定件及该撞针之间,用以施加一回复力于该撞针,以使该撞针来回移动于该按压行程之内。如申请专利范围第1项所述之测试装置,其中该第二弹性体系为一弹簧。如申请专利范围第1项所述之测试装置,其中该第一弹性体之弹性系数远大于该第二弹性体之弹性系数。如申请专利范围第1项所述之测试装置,其中该固定件具有一容置槽及一贯穿孔,该容置槽用以容置该第二弹性体,该贯穿孔系设置于该容置槽底部,该撞针系贯穿该贯穿孔。如申请专利范围第1项所述之测试装置,其中该撞针具有一限位凸块,该限位凸块系无法贯穿该固定件,用以限制该撞针朝该按键移动于该按压行程内。如申请专利范围第1项所述之测试装置,其中该施压机构更包括:一气压缸;以及一气动杆,具有一第一端及一第二端,该第一端系活动式插入于该气压缸,该第二端系耦接于该第二推动件及该调整元件,该调整元件用以微调该第二推动件耦接于该气动杆之位置,以改变该挤压距离。如申请专利范围第6项所述之测试装置,其中该气动杆之该第二端具有一螺纹表面,该调整元件及该第二推动件螺接于该螺纹表面。如申请专利范围第1项所述之测试装置,其中该挤压距离系与该按压力正相关。如申请专利范围第1项所述之测试装置,其中该第一弹性体系为一弹簧。如申请专利范围第1项所述之测试装置,更包括:一支撑架,该施压机构及该按压机构系设置于该支撑架上,以使该施压机构、该按压机构及该按键沿一直线设置。如申请专利范围第1项所述之测试装置,其中该测试装置包括复数个施压机构及复数个按压机构,各该施压机构及各该按压机构系相互对应,以分别测试复数个按键之可靠度或寿命。如申请专利范围第11项所述之测试装置,其中该些施压机构及该些按压机构系直列式排列。如申请专利范围第11项所述之测试装置,其中该些施压机构及该些按压机构系矩阵式排列。
地址 新竹市科学工业园区力行二路1号
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