| 发明名称 | 测试元件、测试元件组、液晶面板及间隙子高度检测方法 | ||
| 摘要 | 一种测试元件，包括：间隙子，形成于液晶面板的第一基板上，所述第一基板面向第二基板的侧面具有第一电极，所述间隙子处于填充所述第一基板和第二基板间间隙的液晶中；以及，凹槽，形成于所述第二基板面向所述第一基板的侧面上且与所述间隙子相对，所述第二基板面向所述第一基板的侧面具有第二电极，所述凹槽与所述间隙子之间夹有液晶。本发明还提供了一种测试元件组、一种液晶面板和一种间隙子高度检测方法，可用以检测压盒前及/或压盒后所述间隙子的高度。 | ||
| 申请公布号 | CN101762892A | 申请公布日期 | 2010.06.30 |
| 申请号 | CN200810208046.7 | 申请日期 | 2008.12.25 |
| 申请人 | 上海天马微电子有限公司 | 发明人 | 马骏;罗熙曦;蒋顺;凌志华 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01)I;G02F1/1339(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 李丽 |
| 主权项 | 一种测试元件，其特征在于，包括：间隙子，形成于液晶面板的第一基板上且具有自由端，所述第一基板具有第一电极，所述液晶面板具有与所述第一基板相对的第二基板，所述自由端处于填充于所述第一基板和第二基板间间隙的液晶中；以及，凹槽，形成于所述第二基板面向所述第一基板的侧面上且与所述间隙子相对，所述第二基板具有第二电极，所述凹槽与所述间隙子之间夹有液晶。 | ||
| 地址 | 201201 上海市浦东新区汇庆路889号 | ||