发明名称 |
基板检查装置 |
摘要 |
本发明揭露一种基板检查装置,用以检查一LCD基板表面之缺陷。该基板检查装置不需改变该基板位置,即可检查一大尺寸基板整体,因此使其高度及机体最小化。 |
申请公布号 |
TWI325978 |
申请公布日期 |
2010.06.11 |
申请号 |
TW094132373 |
申请日期 |
2005.09.20 |
申请人 |
爱德牌工程有限公司 |
发明人 |
李荣钟;崔浚泳;朴将完;金玟洙;葛锺勋;崔相镇;曹载铉 |
分类号 |
G02F1/133 |
主分类号 |
G02F1/133 |
代理机构 |
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代理人 |
黄志扬 |
主权项 |
一种基板检查装置,其特征在于:一表面照明系统,用以照明一基板表面,以检查该基板表面之缺陷;及一基板定位系统,该基板设置于该表面照明系统下方,该表面照明系统用以辅助肉眼检查该基板表面,其中该表面照明系统系固定地架设于一辅助框架,其密封该表面照明系统,及其中:该辅助框架使用绞錬而以其一侧耦合至一主要框架,是故可以枢转地沿着垂直该基板之方向而移动,以照明该基板;及该辅助框架使用多个驱动单位以其另一侧耦合至该主动框架,该等驱动单位可将该辅助框架推向或拉离该主要框架。 |
地址 |
南韩 |