发明名称 整合扫描式光学测量方法
摘要 本发明提供了一种整合扫描式光学测量方法,利用一多频混合光束的光学干涉测量手段,扫描测量一待测对象表面上的复数个测量位置的位置距离,以此获得待测对象表面的轮廓全貌,所述的方法依据所述的复数个测量位置而建立一水平扫描平面,并在所述的水平扫描平面上设定至少一水平扫描向量。同时,设定一垂直于所述的水平扫描向量的垂直扫描向量。接着,将水平扫描向量加上垂直扫描向量,以此获得一整合扫描向量。最后,沿所述的整合扫描向量的方向对所述的复数个测量位置进行扫描,以测量所述的复数个测量位置的位置距离。
申请公布号 CN101308011B 申请公布日期 2010.06.02
申请号 CN200710104624.8 申请日期 2007.05.18
申请人 中茂电子(深圳)有限公司 发明人 林耀明
分类号 G01B9/02(2006.01)I;G01B11/30(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I 主分类号 G01B9/02(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 任默闻
主权项 一种整合扫描式光学测量方法,利用一多频混合光束的光学干涉测量技术,扫描测量一待测对象表面上的第一额定数量t个测量位置的位置距离,以此获得所述的待测对象表面的一轮廓全貌,所述的整合扫描式光学测量方法包含:依据所述的t个测量位置而建立一水平扫描平面,并在所述的水平扫描平面上设定至少一水平扫描向量;设定一垂直于所述的水平扫描平面的垂直扫描向量;将所述的水平扫描向量加上所述的垂直扫描向量,以此获得一整合扫描向量;以及沿所述的整合扫描向量的方向移动以对所述的t个测量位置进行扫描,以此测量所述的t个测量位置的位置距离。
地址 518054 广东省深圳市南山区登良路天安南油工业区4栋第八层