发明名称 |
整合扫描式光学测量方法 |
摘要 |
本发明提供了一种整合扫描式光学测量方法,利用一多频混合光束的光学干涉测量手段,扫描测量一待测对象表面上的复数个测量位置的位置距离,以此获得待测对象表面的轮廓全貌,所述的方法依据所述的复数个测量位置而建立一水平扫描平面,并在所述的水平扫描平面上设定至少一水平扫描向量。同时,设定一垂直于所述的水平扫描向量的垂直扫描向量。接着,将水平扫描向量加上垂直扫描向量,以此获得一整合扫描向量。最后,沿所述的整合扫描向量的方向对所述的复数个测量位置进行扫描,以测量所述的复数个测量位置的位置距离。 |
申请公布号 |
CN101308011B |
申请公布日期 |
2010.06.02 |
申请号 |
CN200710104624.8 |
申请日期 |
2007.05.18 |
申请人 |
中茂电子(深圳)有限公司 |
发明人 |
林耀明 |
分类号 |
G01B9/02(2006.01)I;G01B11/30(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I |
主分类号 |
G01B9/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
任默闻 |
主权项 |
一种整合扫描式光学测量方法,利用一多频混合光束的光学干涉测量技术,扫描测量一待测对象表面上的第一额定数量t个测量位置的位置距离,以此获得所述的待测对象表面的一轮廓全貌,所述的整合扫描式光学测量方法包含:依据所述的t个测量位置而建立一水平扫描平面,并在所述的水平扫描平面上设定至少一水平扫描向量;设定一垂直于所述的水平扫描平面的垂直扫描向量;将所述的水平扫描向量加上所述的垂直扫描向量,以此获得一整合扫描向量;以及沿所述的整合扫描向量的方向移动以对所述的t个测量位置进行扫描,以此测量所述的t个测量位置的位置距离。 |
地址 |
518054 广东省深圳市南山区登良路天安南油工业区4栋第八层 |