发明名称 Test method for integrated circuit
摘要
申请公布号 EP1217630(B1) 申请公布日期 2010.03.10
申请号 EP20010128794 申请日期 2001.12.04
申请人 ATMEL AUTOMOTIVE GMBH;VISHAY SEMICONDUCTOR GMBH 发明人 EICHIN, MATTHIAS;KURZ, ALEXANDER
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G01R31/3185;G11C29/46;G11C29/48;H01L21/822;H01L27/04 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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