发明名称 Verfahren zum Belichten eines Bereichs auf einem Substrat mit einem Strahl und Photolithographisches System
摘要 Ausführungsbeispiele der Erfindung beschreiben ein Verfahren zum Belichten eines Bereichs auf einem Substrat mit einem Strahl. Das Verfahren umfasst das Einstellen eines Fokusversatzes des Strahls bezüglich des Bereichs auf dem Substrat, das Neigen des Strahls oder das Neigen des Substrats und das Belichten des Bereichs auf dem Substrat mit dem Strahl, wodurch Positionen innerhalb des Bereichs erzeugt werden, die mit unterschiedlichen Fokussen belichtet werden. Ferner beschreiben Ausführungsbeispiele Computerprogramme zum Steuern eines photolithographischen Systems um dasselbe auszuführen, und ein photolithographisches System, um dasselbe auszuführen.
申请公布号 DE102009035505(A1) 申请公布日期 2010.02.18
申请号 DE20091035505 申请日期 2009.07.31
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 LIM, CHINTEONG;RODY, YVES FABIEN;SCHNEIDER, JENS;TEMCHENKO, VLAD
分类号 G03F7/20 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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