发明名称 |
三维图像取得装置和利用该三维图像取得装置的加工装置 |
摘要 |
本发明涉及三维图像取得装置和利用该三维图像取得装置的加工装置,对聚光到试样空间内的计测点上的光束进行照射,计测透过光量。根据透过光信号与参照信号测定微弱的光吸收量。一边三维扫描一边获得将光吸收量作为立体像素的三维地图。对该三维地图,进行将计测点附近的光强度分布像作为卷积核的反卷积处理,得到在非染色状态下接近于透明的试样的三维图像。 |
申请公布号 |
CN101576505A |
申请公布日期 |
2009.11.11 |
申请号 |
CN200910132128.2 |
申请日期 |
2009.04.21 |
申请人 |
株式会社林创研 |
发明人 |
林彻;石坂昭三 |
分类号 |
G01N21/84(2006.01)I;G01N21/59(2006.01)I;G02B21/36(2006.01)I;G01N21/85(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/84(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
闫小龙;李家麟 |
主权项 |
1.一种三维图像取得装置,将接近于透明的生物材料作为试样,根据试样透过光的衰减量而获得立体像,其特征在于,包括:对光强度以预定的频率被振幅调制了的光束进行射出的光源;将所述光束聚光到试样中的计测点上,生成所述计测点附近的局部强度分布的物镜;相对地三维扫描所述试样和所述计测点的单元;根据所述试样的光透过量计测所述光束的光衰减量的单元;微小调制信号处理部,计算与没有试样时的光束的透过光量相当的参照信号电压、和与有试样时的所述光束的透过光量相当的试样透过信号电压的差,输出与扫描的计测点的位置坐标对应的光束的微小光衰减量相当的调制信号电压;使用与所述计测点的位置坐标对应的所述调制信号电压,生成三维地图的单元;通过使用了从所述计测点附近的光强度分布像得到的卷积核的反卷积,或不初始设定卷积核的盲反卷积的任何一个,根据所述三维地图生成试样的立体像的单元。 |
地址 |
日本茨城县 |