发明名称 | 集成单晶MEMS器件 | ||
摘要 | 一种制造集成在硅衬底中的MEMS器件的方法。在制造MEMS器件的同时,可以加工诸如具有高电容密度的沟槽电容器之类的无源元件。该方法尤其适合于谐振频率在10MHz范围内的MEMS谐振器。 | ||
申请公布号 | CN101479185A | 申请公布日期 | 2009.07.08 |
申请号 | CN200780024350.X | 申请日期 | 2007.06.14 |
申请人 | NXP股份有限公司 | 发明人 | 马克·斯沃罗斯基;大卫·D·R·谢弗里;包斯卡·菲利普 |
分类号 | B81C1/00(2006.01)I | 主分类号 | B81C1/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈 源;张天舒 |
主权项 | 1. 一种制造MEMS器件的方法,该方法包括以下步骤:-提供具有顶部侧和底部侧的器件衬底(10);-在器件衬底(10)的顶部侧提供至少一个沟槽(20),所述沟槽限定了可动结构(1000)的形状;-在器件衬底(10)的顶部侧提供至少一个导电区域,并且该导电区域的至少一部分形成了附在该可动结构(1000)上的至少一个可动电极(30);-在器件衬底(10)的顶部侧提供电介质层(40),该电介质层至少部分地覆盖了所述导电区域;在器件衬底(10)的顶部侧提供并构造导电电极层(50);在电介质层(40)中提供至少一个定位点(100);-在器件衬底(10)的顶部侧提供并构造导电结构层(70),并且该导电结构层(70)将所述可动结构(1000)定位在所述定位点(100)处;-通过所构造的结构层(70)来部分地去除所述电介质层(40);-在限定了可动结构(1000)的形状的沟槽(20)下面的限定区域内从器件衬底(10)的底部侧去除器件衬底(10),至少直到到达限定了可动结构(1000)的形状的沟槽(20);以及-释放所述可动结构(1000)。 | ||
地址 | 荷兰艾恩德霍芬 |