发明名称 集成单晶MEMS器件
摘要 一种制造集成在硅衬底中的MEMS器件的方法。在制造MEMS器件的同时,可以加工诸如具有高电容密度的沟槽电容器之类的无源元件。该方法尤其适合于谐振频率在10MHz范围内的MEMS谐振器。
申请公布号 CN101479185A 申请公布日期 2009.07.08
申请号 CN200780024350.X 申请日期 2007.06.14
申请人 NXP股份有限公司 发明人 马克·斯沃罗斯基;大卫·D·R·谢弗里;包斯卡·菲利普
分类号 B81C1/00(2006.01)I 主分类号 B81C1/00(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人 陈 源;张天舒
主权项 1. 一种制造MEMS器件的方法,该方法包括以下步骤:-提供具有顶部侧和底部侧的器件衬底(10);-在器件衬底(10)的顶部侧提供至少一个沟槽(20),所述沟槽限定了可动结构(1000)的形状;-在器件衬底(10)的顶部侧提供至少一个导电区域,并且该导电区域的至少一部分形成了附在该可动结构(1000)上的至少一个可动电极(30);-在器件衬底(10)的顶部侧提供电介质层(40),该电介质层至少部分地覆盖了所述导电区域;在器件衬底(10)的顶部侧提供并构造导电电极层(50);在电介质层(40)中提供至少一个定位点(100);-在器件衬底(10)的顶部侧提供并构造导电结构层(70),并且该导电结构层(70)将所述可动结构(1000)定位在所述定位点(100)处;-通过所构造的结构层(70)来部分地去除所述电介质层(40);-在限定了可动结构(1000)的形状的沟槽(20)下面的限定区域内从器件衬底(10)的底部侧去除器件衬底(10),至少直到到达限定了可动结构(1000)的形状的沟槽(20);以及-释放所述可动结构(1000)。
地址 荷兰艾恩德霍芬