发明名称 具有精细埋置绝缘层之SOI底材
摘要 制作具有厚度在2至25nm间之精细埋置绝缘层之半导体构造6,6',6'''之方法,其包含以下步骤:于一第一底材1之一表面3'及/或一第二底材2之一表面4'之上形成至少一绝缘层3,4,该些表面3',4'没有绝缘层或由于底材曝露于环境中而呈现一原始氧化层;组合该第一及第二底材1及2;将该第一底材1薄化,以便获得该半导体构造,该绝缘层形成步骤系由以一种氧化及/或氮化气体为基础的电浆活化步骤所构成。
申请公布号 TW200919630 申请公布日期 2009.05.01
申请号 TW097135225 申请日期 2008.09.12
申请人 S O I 科技矽公司 发明人 迪帝儿 蓝儒;沙巴丝基坦 克迪尔
分类号 H01L21/76(2006.01) 主分类号 H01L21/76(2006.01)
代理机构 代理人 陈慧玲
主权项
地址 法国