| 发明名称 | 光学记录介质、记录/再现设备、和记录/再现方法 | ||
| 摘要 | 提供光学记录介质、记录/再现设备、和记录/再现方法。一种信息记录介质，其上，当被创建在信息记录介质的预定区域中的用于替换缺陷块的替换块的备用区被扩大或重新分配时，扩大的或重新分配的备用区中的块的缺陷状态信息被改变并且被写在该信息记录介质上。通过管理扩大的或重新分配的备用区中的块的缺陷状态信息，驱动系统的不必要的操作被消除，因此改善了驱动系统的效率。 | ||
| 申请公布号 | CN101325080A | 申请公布日期 | 2008.12.17 |
| 申请号 | CN200810128358.7 | 申请日期 | 2005.01.31 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 黄盛凞;高祯完 |
| 分类号 | G11B20/18(2006.01) | 主分类号 | G11B20/18(2006.01) |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郭鸿禧;张军 |
| 主权项 | 1、一种管理信息存储介质上的缺陷的方法，包括：当与第一缺陷列表项相应的块存在于扩大的或新分配的备用区中时产生第二缺陷列表项，其中，第一缺陷列表项包括指示具有缺陷的块不具有替换该块的相应的替换块的状态信息和指示该块的位置的第一信息，以及第二缺陷列表项包括指示该块是不可用的替换缺陷块的块的状态信息和指示该块的位置的第二信息。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道水原市 | ||