发明名称 一种接口测试响应设备
摘要 本发明涉及一种接口测试响应设备,含有有限个数的多种决结构,每种块结构都存储有固定的格式,并且具有可变的数据部分,然后对块结构进行实例化,以形成实例化块,接口测试响应设备还包括控制装置,实例化块的输出信号通过控制装置在不同的时刻输出到与接口测试响应设备相连接的总线上,形成测试响应设备的响应信号,其中生成实例化块的过程是,对块结构的每个部分,根据要产生的信号,确定具体数值的过程。本发明的好处是降低购买接口设备的费用、节省时间,同时能够方便的产生异常响应信号,用于接口模块异常状态的测试。
申请公布号 CN100444123C 申请公布日期 2008.12.17
申请号 CN200410102977.0 申请日期 2004.12.31
申请人 北京中星微电子有限公司 发明人 杨柱;刘健;周天夷
分类号 G06F11/22(2006.01) 主分类号 G06F11/22(2006.01)
代理机构 北京北翔知识产权代理有限公司 代理人 郑立柱
主权项 1.一种接口测试响应设备,其特征在于,含有有限个数的多种块结构,每种块结构都存储有固定的格式,并且具有可变的数据部分,块结构被进行实例化,以形成实例化块,接口测试响应设备还包括控制装置,实例化块的输出信号通过控制装置在不同的时刻输出到与接口测试响应设备相连接的总线上,形成测试响应设备的响应信号,其中生成实例化块的过程是,对块结构的每个部分,根据要产生的信号,确定具体数值的过程。
地址 100083北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层