发明名称 CIRCUIT INTEGRE COMPRENANT UN MODE DE TEST DE PERFORMANCE
摘要 L'invention concerne un circuit intégré comprenant N cellules configurables (CC1, ..., CCN) comprenant chacune une entrée fonctionnelle (D), une entrée de propagation (CK ou S) et une sortie (Q), le circuit comprenant un mode fonctionnel dans lequel les N cellules configurables sont reliées par leur entrée fonctionnelle et leur sortie à des blocs logiques (BL1, ..., BLN) avec lesquels elles coopèrent pour former au moins un circuit logique.Le circuit selon l'invention est caractérisé en ce qu'il comprend également un mode de test dans lequel les N cellules configurables sont reliées par leur entrée de propagation et leur sortie aux blocs logiques et dans lequel la sortie de la N-ième cellule configurable (CCN) est reliée à une entrée fonctionnelle du premier bloc logique (BL1) pour former un oscillateur.Application au test de performances et de consommation des circuits intégrés.
申请公布号 FR2912842(A1) 申请公布日期 2008.08.22
申请号 FR20070053324 申请日期 2007.02.19
申请人 STMICROELECTRONICS SOCIETE ANONYME 发明人 BOROT BERTRAND;BECHET EMMANUEL
分类号 H01L27/00;G01R31/28;H03K19/003 主分类号 H01L27/00
代理机构 代理人
主权项
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