发明名称 |
具有静电放电保护装置的半导体结构 |
摘要 |
一种半导体结构,具有一基板(102)、一设置在基板(102)上的组件层(104)、一触点(108)、以及一以适当方式设置在基板(102)及触点(108)之间的静电放电保护装置(144a,144b),以便在出现静电放电情况时,会发生一从静电放电保护装置(114a,114b)到触点(108)的击穿现象。 |
申请公布号 |
CN100390992C |
申请公布日期 |
2008.05.28 |
申请号 |
CN02810894.9 |
申请日期 |
2002.05.10 |
申请人 |
因芬尼昂技术股份公司 |
发明人 |
K·迪芬贝克;K·格兰恩特;J·胡伯;U·克鲁贝恩 |
分类号 |
H01L27/02(2006.01);H01L29/735(2006.01);H01L29/732(2006.01) |
主分类号 |
H01L27/02(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
赵辛 |
主权项 |
1.一种半导体结构,具有:一个基板(102);一个设置在该基板(102)上并具有一集电极的组件层(104),此外,组件层(104)内还有一基极(106)和一发射极(110),且该基极(106)具有形成于该组件层(104)内的一端点触点区(108);以及一或数个置于该基板(102)及该端点触点区(108)间作为一静电放电保护装置的区域(144a,144b),其中,该一或数个该区域(144a,144b)设置在与该发射极(110)相对而立的区域外,并具有一高于该基板(102)的掺杂浓度,因此在出现静电放电情况时,从该一或数个区域(144a,144b)到该基极(106)的该端点触点区(108)会发生一击穿现象。 |
地址 |
德国慕尼黑 |