发明名称 半密度唯读记忆体内建之动态随机存取记忆体
摘要 一种半密度内建唯读记忆体之动态随机存取记忆体系使用硬程式规划之非挥发性单元及未程式规划之动态单元。藉由硬程式规划于一对单元中之一个第一记忆体单元或者一个第二记忆体单元,不同的资料状态系被储存。两个位元线系被使用于存取该记忆体单元对。因为该些单元之一个单元系被硬程式规划,所以感测放大器电路系辨识该适当的资料状态。该唯读记忆体单元系能够以许多不同的方式而程式规划。举例而言,唯读记忆体单元系能够藉由消除单元介电质以使单元电极及一个程式电压短路而被硬程式规划,或者一个电气插头系能够被制造于该些单元电极之间,且被短路至一个程式电压。于其他实施例中,能够使用一个反熔丝程式规划技术而程式规划该唯读记忆体单元,或者藉由提供诸如一个至该基质之主动区域的一个高漏失路径(非完全短路),而程式规划该唯读记忆体单元。
申请公布号 TWI292151 申请公布日期 2008.01.01
申请号 TW091135517 申请日期 2002.12.09
申请人 麦克隆科技公司 发明人 史考特. 德纳;凯西. 科司;菲利普G. 沃得
分类号 G11C11/34(200601120200601) 主分类号 G11C11/34(200601120200601)
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项 1.一种记忆体元件,其系包含: 一个唯读记忆体单元,其系硬程式规划至一个第一 资料状态; 一个动态记忆体单元;及 存取电路,其系连接该唯读记忆体单元及该动态记 忆体单元至差动位元线。 2.如申请专利范围第1项之记忆体元件,其中,该存 取电路系包含: 一个第一电晶体,其系连接于该唯读记忆体单元及 一个第一位元线之间;及 一个第二电晶体,其系连接于该动态记忆体单元及 一个第二位元线之间,其中,该第一电晶体及该第 二电晶体之闸极连结系连接至不同的字元线。 3.如申请专利范围第1项之记忆体元件,其中,该唯 读记忆体单元系硬程式规划成VCC。 4.如申请专利范围第1项之记忆体元件,其中,该唯 读记忆体单元系硬程式规划成VSS。 5.如申请专利范围第1项之记忆体元件,其中,该唯 读记忆体单元系为一个电容器单元,系使用一个电 位以将该唯读记忆体单元之一个介电层短路而硬 程式规划该电容器单元。 6.如申请专利范围第1项之记忆体元件,其中,该唯 读记忆体单元系为一个电容器单元,系以一个实体 导电体制造于该唯读记忆体单元之电容器电极之 间而硬程式规划该电容器单元。 7.如申请专利范围第1项之记忆体元件,其中,该唯 读记忆体单元系为一个电容器单元,其系藉由提供 由该唯读记忆体单元之一个储存节点而来之高漏 失路径而硬程式规划该电容器单元。 8.如申请专利范围第1项之记忆体元件,其中,该唯 读记忆体单元系为一个电容器单元,其系藉由实体 上短路该唯读记忆体单元之一个储存节点以接收 一个电压讯号而硬程式规划该电容器单元。 9.一种内建半密度唯读记忆体之动态随机存取记 忆体元件,其系包含: 一个动态随机存取记忆体阵列,其系包含第一动态 记忆体单元; 一个唯读记忆体阵列,其系包含硬程式规划之非挥 发性记忆体单元及第二动态记忆体单元; 感测放大器电路,其系连接至该唯读记忆体阵列之 差动位元线; 复数个字元线,其用以存取该记忆体唯读记忆体阵 列之列;及 存取电路,其系连接该些非挥发性记忆体单元之一 及该第二动态记忆体单元之一至该差动位元线,以 回应一对字元线讯号。 10.如申请专利范围第9项之内建半密度唯读记忆体 之动态随机存取记忆体元件,其中,该存取电路系 包含: 一个第一电晶体,其系连接于该非挥发性记忆体单 元及一个第一位元线之间;及 一个第二电晶体,其系连接于该第二动态记忆体单 元及一个第二位元线之间,其中,该第一电晶体及 第二电晶体之闸极连结系分别连接成接收第一及 第二字元线讯号。 11.如申请专利范围第9项之内建半密度唯读记忆体 之动态随机存取记忆体元件,其中,该非挥发性记 忆体单元系硬程式规划成VCC,且该第二动态记忆体 单元系不被程式规划。 12.如申请专利范围第9项之内建半密度唯读记忆体 之动态随机存取记忆体元件,其中,该非挥发性记 忆体单元系硬程式规划成VSS,且该第二动态记忆体 单元系不被程式规划。 13.如申请专利范围第9项之内建半密度唯读记忆体 之动态随机存取记忆体元件,其中,该唯读记忆体 单元系为一个电容器单元,其系藉由下列方式而予 以硬程式规划: 使用一个电位以短路该唯读记忆体单元之一个介 电层, 使用制造于该唯读记忆体单元之电容器电极之间 之一个实体导电体, 使用由该唯读记忆体单元之一个储存节点而来之 一个高漏失路径,或者 使用该唯读记忆体单元之一个储存节点之间之一 个实体短路,以接收一个电压讯号。 14.一种半密度唯读记忆体,其系包含: 一个唯读记忆体阵列,该唯读记忆体阵列之每一个 系包含第一及第二记忆体单元,该第一记忆体单元 系以非挥发性之方式硬程式规划成为一个第一电 压,且该第二记忆体单元系为一个挥发性的记忆体 单元电容器;及 存取电路,其系连接成读取每一个唯读记忆体单元 ,其中,该存取电路系电性地连接该第一及第二记 忆体单元至差动感测电路。 15.如申请专利范围第14项之半密度唯读记忆体,其 中,该第一电压系具有VCC之准位。 16.如申请专利范围第14项之半密度唯读记忆体,其 中,该第一电压系具有VSS之准位。 17.一种操作一个唯读记忆体之方法,其系包含下列 步骤: 藉由硬程式规划该第一记忆体单元成为一个第一 电压准位而以非挥发性之方式程式规划一个第一 记忆体单元成为一个第一资料状态; 提供一个非程式规划之挥发性记忆体单元;及 存取该第一及第二记忆体单元电容器,以回应字元 线讯号。 18.如申请专利范围第17项之操作一个唯读记忆体 之方法,其中,该第一记忆体单元系为一个电容器, 其系具有永远连结在一起之第一及第二电极。 19.如申请专利范围第18项之操作一个唯读记忆体 之方法,其中,藉由施加足以使该第一记忆体单元 电容器之一个中间介电质崩溃之电位,而使该第一 及第二电容器电极永远连结在一起。 20.如申请专利范围第18项之操作一个唯读记忆体 之方法,其中,藉由制造于该第一及第二电容器电 极之间之一个导体,而使该第一及第二电容器电极 永远连结在一起。 21.如申请专利范围第17项之操作一个唯读记忆体 之方法,其中,该第一记忆体单元系包含一个电性 连结至一个偏压之电极。 22.如申请专利范围第21项之操作一个唯读记忆体 之方法,其中,该电极系电性地连结至一个等于VCC 或者VSS之偏压。 图式简单说明: 第1图系为本发明之一个实施例之一个内建唯读记 忆体之动态随机存取记忆体之简化方块图;及 第2A图系显示第1图之该记忆体之一个实施例之一 对互补位元线;及 第2B图系显示第1图之该记忆体之另一个实施例之 一对互补位元线。
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