发明名称 | 硅半导体器件玻璃钝化工艺 | ||
摘要 | 一种硅半导体器件玻璃钝化工艺,其特征在于:a.将配制钝化玻璃的各种氧化物或相应的氢氧化物或碳酸盐制成颗粒直径≤1μm的超细微粉作为原材料;b.经高温烧结后,将已成的钝化玻璃重新制成颗粒直径≤1μm的超细微粉作为钝化器件的玻璃粉;c.在玻璃钝化热成型时采用低真空10-10<SUP>-1</SUP>Pa加热处理。采用本发明的工艺可以制取均匀性好,各种微缺陷基本消除,内应力小,窗孔刻蚀图形边缘完整性好,精度高的玻璃钝化膜,使玻璃钝化器件高温反向漏电流减小,成品率和可靠性均得到提高。 | ||
申请公布号 | CN1326215C | 申请公布日期 | 2007.07.11 |
申请号 | CN200410041716.2 | 申请日期 | 2004.08.17 |
申请人 | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 | 发明人 | 林立强 |
分类号 | H01L21/31(2006.01) | 主分类号 | H01L21/31(2006.01) |
代理机构 | 南京天华专利代理有限责任公司 | 代理人 | 徐冬涛;叶立剑 |
主权项 | 1.一种硅半导体器件玻璃钝化工艺,其特征在于:a.将配制钝化玻璃的各种氧化物或相应的氢氧化物或碳酸盐制成颗粒直径≤1μm的超细微粉作为原材料;b.经高温烧结后,将已成的钝化玻璃重新制成颗粒直径≤1μm的超细微粉作为钝化器件的玻璃粉;c.在玻璃钝化热成型的下列三个温区采用低真空10-10-1Pa加热处理:玻璃除气温度区470℃-550℃除气10分钟;玻璃软化温度区600℃-630℃预成型10分钟;玻璃成型温度区750℃-760℃成型30分钟。 | ||
地址 | 210016江苏省南京市中山东路524号 |