| 发明名称 | 库测试电路以及库测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种库测试电路以及库测试方法，该库测试电路用于验证多个标准单元库的逻辑单元的功能，其包括：多个标准单元库的逻辑单元，每个逻辑单元具有预定数目个输入矢量合成，该核心模块输出对标准单元库的测试结果信号；第一开关组，用于将第一输入信号输出到该核心模块，从而选择对应于各个逻辑单元的单元标识符；以及第二开关组，用于将第二输入信号输出到该核心模块，从而选择与每个逻辑单元的输入矢量合成对应的图形标识符。 | ||
| 申请公布号 | CN1991850A | 申请公布日期 | 2007.07.04 |
| 申请号 | CN200610172776.7 | 申请日期 | 2006.12.26 |
| 申请人 | 东部电子股份有限公司 | 发明人 | 尼廷·萨尔古南 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01) | 主分类号 | G06F17/50(2006.01) |
| 代理机构 | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郑小军 |
| 主权项 | 1、一种库测试电路，其用于验证多个标准单元库的逻辑单元的功能，该库测试电路包括：核心模块，其包括多个标准单元库的逻辑单元，每个逻辑单元具有预定数目个输入矢量合成，该核心模块输出对标准单元库的测试结果；第一开关组，用于将第一输入信号输出到该核心模块，从而选择对应于各个逻辑单元的单元标识符；以及第二开关组，用于将第二输入信号输出到该核心模块，从而选择与每个逻辑单元的输入矢量合成对应的图形标识符。 | ||
| 地址 | 韩国首尔 | ||