| 发明名称 | 半导体集成电路、检查装置和半导体集成电路的检查方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供半导体集成电路、检查装置和半导体集成电路的检查方法，其中，该半导体集成电路将获取在总线(111)上传输的数据的信息取入寄存器(103)连接到总线(111)，并且将以无线方式发送被信息取入寄存器(103)获取的数据的无线通信电路(102)连接到信息取入寄存器(103)，在总线(111)上传输的数据被信息取入寄存器(103)获取时，无线通信电路(102)把信息取入寄存器(103)获取的数据通过天线(101)发送到外部。 | ||
| 申请公布号 | CN1985181A | 申请公布日期 | 2007.06.20 |
| 申请号 | CN200580023273.7 | 申请日期 | 2005.07.08 |
| 申请人 | 精工爱普生株式会社 | 发明人 | 饭田泉;伊野口诚 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | G01R31/28(2006.01) |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 黄纶伟 |
| 主权项 | 1.一种半导体集成电路，其特征在于，该半导体集成电路具有：电路功能部；与所述电路功能部连接的总线；取入所述总线上所传输的数据的信息取入寄存器；以及以无线方式发送取入到所述信息取入寄存器中的数据的无线通信电路。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||