电脑元件测试方法及测试系统

摘要

一种电脑元件测试方法及测试系统，系透过控制电脑内部之处理器温度，以增加处理器周边电脑元件之测试压力进而对电脑元件进行测试，透过设置电脑元件之测试温度波动范围来进行电脑元件之测试温度的设置，当即时温度等于测试温度时便透过测试程式对电脑元件进行测试。本发明的测试系统可提前装入雏形机内，适宜进行大规模测试，而且本发明的测试方法自动化程度高，并可在特定温度下对待测元件进行测试，为了解待测电脑元件在不同温度下的表现创造条件。