发明名称 利用深亚微米CMOS标准工艺实现的EEPROM电平转换电路及方法
摘要 本发明提供一种利用深亚微米CMOS标准工艺实现的EEPROM电平转换电路及方法。该电平转换电路完全采用CMOS标准工艺参数,利用两对PMOS管与NMOS管对电压进行钳位,从而保证了电路中所有的MOS管栅漏电压差|V<SUB>gd</SUB>|或栅源电压差|V<SUB>gs</SUB>|均小于栅氧可靠性要求的安全电压值。与传统电平转换电路相比,该电路极大地增加MOS管栅氧可靠性;同时,该电路结构由于完全采用深亚微米CMOS标准工艺,可以更加适合嵌入式EEPROM电路并降低电路成本。
申请公布号 CN1885435A 申请公布日期 2006.12.27
申请号 CN200610089593.9 申请日期 2006.07.05
申请人 北京大学 发明人 邓志欣;廖怀林;李炎;黄如
分类号 G11C16/06(2006.01);G11C11/56(2006.01) 主分类号 G11C16/06(2006.01)
代理机构 北京君尚知识产权代理事务所 代理人 贾晓玲
主权项 1、一种利用深亚微米CMOS标准工艺实现EEPROM的电平转换电路的方法,其步骤包括:在由PMOS管M1、M2与NMOS管M3、M4构成的双稳态电平转换电路中,在M1、M3间和M2、M4间分别增加一对PMOS管M5/M7和NMOS管M6/M8,M1-M8均采用深亚微米CMOS标准工艺下的I/O管参数,M5-M8栅接电压Vx用于电压钳位作用。
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