发明名称 |
利用深亚微米CMOS标准工艺实现的EEPROM电平转换电路及方法 |
摘要 |
本发明提供一种利用深亚微米CMOS标准工艺实现的EEPROM电平转换电路及方法。该电平转换电路完全采用CMOS标准工艺参数,利用两对PMOS管与NMOS管对电压进行钳位,从而保证了电路中所有的MOS管栅漏电压差|V<SUB>gd</SUB>|或栅源电压差|V<SUB>gs</SUB>|均小于栅氧可靠性要求的安全电压值。与传统电平转换电路相比,该电路极大地增加MOS管栅氧可靠性;同时,该电路结构由于完全采用深亚微米CMOS标准工艺,可以更加适合嵌入式EEPROM电路并降低电路成本。 |
申请公布号 |
CN1885435A |
申请公布日期 |
2006.12.27 |
申请号 |
CN200610089593.9 |
申请日期 |
2006.07.05 |
申请人 |
北京大学 |
发明人 |
邓志欣;廖怀林;李炎;黄如 |
分类号 |
G11C16/06(2006.01);G11C11/56(2006.01) |
主分类号 |
G11C16/06(2006.01) |
代理机构 |
北京君尚知识产权代理事务所 |
代理人 |
贾晓玲 |
主权项 |
1、一种利用深亚微米CMOS标准工艺实现EEPROM的电平转换电路的方法,其步骤包括:在由PMOS管M1、M2与NMOS管M3、M4构成的双稳态电平转换电路中,在M1、M3间和M2、M4间分别增加一对PMOS管M5/M7和NMOS管M6/M8,M1-M8均采用深亚微米CMOS标准工艺下的I/O管参数,M5-M8栅接电压Vx用于电压钳位作用。 |
地址 |
100871北京市海淀区颐和园路5号 |