发明名称 |
化合物半导体基板的制造方法 |
摘要 |
提供化合物半导体基板的制造方法,包含以下的工序(a)~(e)。(a)在基板(1)上,通过外延生长形成化合物半导体功能层(2);(b)在化合物半导体功能层(2)上接合支撑基板(3);(c)通过研磨除去基板(1)、与基板(1)接触一侧的化合物半导体功能层(2)的一部分;(d)在通过工序(c)露出的化合物半导体功能层(2)的表面接合具有比基板(1)大的热传导率的高热传导性基板(4),取得多层基板;(e)从多层基板分离支撑基板(3)。 |
申请公布号 |
CN1871699A |
申请公布日期 |
2006.11.29 |
申请号 |
CN200480031316.1 |
申请日期 |
2004.10.25 |
申请人 |
住友化学株式会社 |
发明人 |
秦雅彦;小野善伸;上田和正 |
分类号 |
H01L21/331(2006.01);H01L21/329(2006.01);H01L21/02(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/331(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
朱丹 |
主权项 |
1.一种化合物半导体基板的制造方法,其中,包含以下的工序(a)~(e):(a)在基板(1)之上,通过外延生长形成化合物半导体功能层(2);(b)在化合物半导体功能层(2)上,接合支撑基板(3);(c)通过研磨除去基板(1)、和与基板(1)接触侧的化合物半导体功能层(2)的一部分;(d)在由工序(c)露出的化合物半导体功能层(2)的表面,接合具有比基板(1)大的热传导率的高热传导性基板(4),而取得多层基板;(e)从多层基板分离支撑基板(3)。 |
地址 |
日本国东京都 |