发明名称 化合物半导体基板的制造方法
摘要 提供化合物半导体基板的制造方法,包含以下的工序(a)~(e)。(a)在基板(1)上,通过外延生长形成化合物半导体功能层(2);(b)在化合物半导体功能层(2)上接合支撑基板(3);(c)通过研磨除去基板(1)、与基板(1)接触一侧的化合物半导体功能层(2)的一部分;(d)在通过工序(c)露出的化合物半导体功能层(2)的表面接合具有比基板(1)大的热传导率的高热传导性基板(4),取得多层基板;(e)从多层基板分离支撑基板(3)。
申请公布号 CN1871699A 申请公布日期 2006.11.29
申请号 CN200480031316.1 申请日期 2004.10.25
申请人 住友化学株式会社 发明人 秦雅彦;小野善伸;上田和正
分类号 H01L21/331(2006.01);H01L21/329(2006.01);H01L21/02(2006.01) 主分类号 H01L21/331(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 朱丹
主权项 1.一种化合物半导体基板的制造方法,其中,包含以下的工序(a)~(e):(a)在基板(1)之上,通过外延生长形成化合物半导体功能层(2);(b)在化合物半导体功能层(2)上,接合支撑基板(3);(c)通过研磨除去基板(1)、和与基板(1)接触侧的化合物半导体功能层(2)的一部分;(d)在由工序(c)露出的化合物半导体功能层(2)的表面,接合具有比基板(1)大的热传导率的高热传导性基板(4),而取得多层基板;(e)从多层基板分离支撑基板(3)。
地址 日本国东京都