发明名称 | 一种化学机械抛光机 | ||
摘要 | 本发明有关一种化学机械抛光机,用于半导体制造工艺设备领域,包括研磨垫及研磨头,研磨头上安装有保持环,上述保持环与研磨垫接触的表面上具有硬质研磨颗粒。通过上述设置,可以通过研磨头上的保持环与研磨垫产生磨擦,从而将现有技术中的保持环与研磨垫修整环一体化,简化了化学机械抛光设备,降低生产成本。 | ||
申请公布号 | CN1855380A | 申请公布日期 | 2006.11.01 |
申请号 | CN200510025456.4 | 申请日期 | 2005.04.27 |
申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 方精训 |
分类号 | H01L21/304(2006.01);H01L21/306(2006.01);B24B37/04(2006.01) | 主分类号 | H01L21/304(2006.01) |
代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 丁纪铁 |
主权项 | 1.一种化学机械抛光机,包括研磨垫及研磨头,研磨头上安装有保持环,其特征在于:上述保持环与研磨垫接触的表面上具有硬质研磨颗粒。 | ||
地址 | 201206上海市浦东川桥路1188号 |