发明名称 一种化学机械抛光机
摘要 本发明有关一种化学机械抛光机,用于半导体制造工艺设备领域,包括研磨垫及研磨头,研磨头上安装有保持环,上述保持环与研磨垫接触的表面上具有硬质研磨颗粒。通过上述设置,可以通过研磨头上的保持环与研磨垫产生磨擦,从而将现有技术中的保持环与研磨垫修整环一体化,简化了化学机械抛光设备,降低生产成本。
申请公布号 CN1855380A 申请公布日期 2006.11.01
申请号 CN200510025456.4 申请日期 2005.04.27
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 方精训
分类号 H01L21/304(2006.01);H01L21/306(2006.01);B24B37/04(2006.01) 主分类号 H01L21/304(2006.01)
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人 丁纪铁
主权项 1.一种化学机械抛光机,包括研磨垫及研磨头,研磨头上安装有保持环,其特征在于:上述保持环与研磨垫接触的表面上具有硬质研磨颗粒。
地址 201206上海市浦东川桥路1188号