发明名称 Vorrichtung und Verfahren zur Überprüfung eines Resistmusters
摘要
申请公布号 DE60025878(T2) 申请公布日期 2006.09.28
申请号 DE20006025878T 申请日期 2000.11.30
申请人 SONY CORP. 发明人 IMAI, YUTAKA;TAGUCHI, AYUMU;TAMADA, HITOSHI;WADA, HIROYUKI
分类号 G01B11/24;G01N21/956;G01N21/88;G03F7/20;G03F7/26;H01L21/027;H01L21/66 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项
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