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发明名称 SIMULTANEOUS MEASUREMENT OF THE INTEGRATED X-RAY REFLECTIVITY FOR DIFFERENT ORDERS OF REFLECTIONS BY USING CONTINUOUS X-RAY AND APPARATUS FOR MEASUREMENT THEREOF
摘要
申请公布号 KR20060066799(A) 申请公布日期 2006.06.19
申请号 KR20040105268 申请日期 2004.12.14
申请人 KOREA BASIC SCIENCE INSTITUTE 发明人 LEE, SANG GON;BAK, JUN GYO;BITTER MANFRED
分类号 G01N23/20 主分类号 G01N23/20
代理机构 代理人
主权项
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