| 发明名称 | 集成电路设计模拟环境的测试模式产生方法及储存媒体 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种测试模式(test pattern)的产生方法及储存媒体，其适用于集成电路设计模拟环境。该具选项功能测试模式产生方法包括：合并至少二测试向量，藉以产生合并测试向量；其中个别测试向量定义一组测试行为；以及利用该集成电路设计模拟环境进行该合并测试向量的编译及连接后，产生合并测试模式；其中该合并测试模式可分别进行个别测试向量所定义的测试行为。 | ||
| 申请公布号 | CN1776444A | 申请公布日期 | 2006.05.24 |
| 申请号 | CN200510126968.X | 申请日期 | 2005.11.29 |
| 申请人 | 威盛电子股份有限公司 | 发明人 | 王敏书;王淳佑;杨君智 |
| 分类号 | G01R31/3183(2006.01);G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | G01R31/3183(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 黄小临;王志森 |
| 主权项 | 1.一种测试模式的产生方法，其适用于集成电路设计模拟环境；该具选项功能测试模式产生方法包括：合并至少二测试向量，藉以产生合并测试向量；其中个别测试向量定义一组测试行为；以及利用该集成电路设计模拟环境进行该合并测试向量的编译及连接后，产生合并测试模式；其中该合并测试模式可分别进行个别测试向量所定义的测试行为。 | ||
| 地址 | 台湾台北县 | ||